固体基质室温燐光分析法测定痕量银

基于AgCl·PVA·Ag^+吸附FIn^-所形成的离子缔合物AgCl·PVA·Ag^+·FIn^-能在滤纸基质上发射强而稳定的室温燐光信号的特性, 建立了以滤纸为基质的固体基质室温燐光测定痕量银的新方法 。 该离子缔合物对应于聚乙烯醇(PVA)存在下Fajans(法扬斯)法的终点 。 在一定条件下, 离子缔合物的燐光强度与吸附层的Ag^+含量成正比, 线性范围为1.72-8.6×10^-12g/斑, (0.4μL/斑), 工作曲线对应的回归方程ΔIp=280.81+35.45mAg^+(10^-12g/斑), n=6, 相关系数r=0.9995 。 该方法快速、灵敏、准确 。 用于人发、茶叶中银的测定, 与AAS法基本相符 。 【固体基质室温燐光分析法测定痕量银】完成机构:[1]漳州师范学院化学系, 漳州363000 [2]清华大学化学系, 北京100084

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